SYSTESTER思克THI-1801測(cè)厚儀,不僅用于電池隔膜、薄膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測(cè)量，還用于太陽(yáng)能電池硅片、紙張、膠帶、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量，是一款超高測(cè)試誤差的全自動(dòng)測(cè)厚儀，測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、薄膜生產(chǎn)廠(chǎng)家、光伏廠(chǎng)等單位。

THI-1801測(cè)厚儀原理：

采用機(jī)械接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。

厚度是電池隔膜隔膜最基本的特性之一，其要求的厚度均勻性與所有薄膜生產(chǎn)公司如出一轍，可謂永恒追求的質(zhì)量指標(biāo)，會(huì)直接影響隔膜卷的外觀(guān)質(zhì)量以及內(nèi)在性能，因此是生產(chǎn)過(guò)程中需嚴(yán)加控制的質(zhì)量指標(biāo)之一。隔膜厚度的均勻性包括縱向厚度的均勻和橫向厚度的均勻，但比較而言，橫向厚度均勻性更為重要，一般必須控制在1um以?xún)?nèi)。

THI-1801測(cè)厚儀

THI-1801測(cè)厚儀操作步驟：

1.試樣條件調(diào)節(jié)，狀態(tài)調(diào)節(jié)時(shí)間和環(huán)境應(yīng)按被測(cè)材料的規(guī)范。

2.試樣和厚度測(cè)量?jī)x的各測(cè)量面無(wú)油污、灰塵等污染。

3.測(cè)量前應(yīng)檢查薄片測(cè)厚儀零點(diǎn)，在每組試樣測(cè)量后應(yīng)重新檢查其零點(diǎn)。

4.測(cè)量時(shí)應(yīng)平緩放下測(cè)頭，避免試樣變形。

5.按等分試樣長(zhǎng)度的方法以確定測(cè)量厚度的位置點(diǎn)，方法如下：

A.試樣長(zhǎng)度在≤300mm,測(cè)10點(diǎn)

B.試樣長(zhǎng)度在300mm~1500mm,測(cè)20點(diǎn)

C. 試樣長(zhǎng)度在≥1500mm,至少測(cè)30點(diǎn)

對(duì)未裁邊的樣品，應(yīng)在距邊50mm開(kāi)始測(cè)量。